Giriş Yapılıyor...
Kullanıcı adı
:
Şifre
:
Kayıt
Forgot your PIN?
Giriş
|
Kütüphane Hesabım
|
Listelerim
|
|
Remember to clear the cache and close the browser window.
Rooms Restriction Values
Tüm Alanlar
Başlık
Yazar
Konu
ISBN
Not
Search Field
Tüm Alanlar
Target Value
Limit Value
Restriction Value
Arama:
To enable accessibility mode, return to the beginning of the page and use the link in the menu bar.
Gelişmiş Arama
2 sonuç bulundu
İşlemler:
Listelerime ekle
Eposta
Yazdır
Ayırt
Sırala:
İlgiye Göre (Varsayılan)
Yıla Gore (Artan)
Yıla Gore (Azalan)
Başlık
Yazar
Tümünü Seç
1
00
DEFAULTTR
Liste seç
Geçici Liste
Bunu varsayılan liste yap.
Öğeler başarıyla eklendi
Öğeler eklenirken hata oldu. Lütfen tekrar deneyiniz.
One or more items could not be added because you are not logged in.
1.
Computer Vision for X-Ray Testing Imaging, Systems, Image Databases, and Algorithms
Computer Vision for X-Ray Testing Imaging, Systems, Image Databases, and Algorithms
Yazar
Mery, Domingo. author.
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-20747-6
Format:
Electronic Resources
View Other Search Results
2.
Fringe 2013 7th International Workshop on Advanced Optical Imaging and Metrology
Fringe 2013 7th International Workshop on Advanced Optical Imaging and Metrology
Yazar
Osten, Wolfgang. editor.
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-36359-7
Format:
Electronic Resources
View Other Search Results
Tümünü Seç
1
2 sonuç bulundu
İşlemler:
Listelerime ekle
Eposta
Yazdır
Ayırt
Sırala:
İlgiye Göre (Varsayılan)
Yıla Gore (Artan)
Yıla Gore (Azalan)
Başlık
Yazar
Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Daraltılmış:
Included
Konu: Image processing.
Included
Konu: Industrial safety.
Yazar
Dahil
Hariç
SpringerLink (Online service)
(2)
Mery, Domingo. author.
(1)
Osten, Wolfgang. editor.
(1)
Format
Dahil
Hariç
Electronic Resources
(2)
Dil
Dahil
Hariç
English
(2)
Basım Yılı
Dahil
Hariç
2014
(1)
2015
(1)
Konu
Dahil
Hariç
Image Processing and Computer Vision.
(2)
Quality Control, Reliability, Safety and Risk.
(2)
Quality control.
(2)
Reliability.
(2)
Computer science.
(1)
Engineering.
(1)
Optics, Optoelectronics, Plasmonics and Optical Devices.
(1)
Optics.
(1)
Optoelectronics.
(1)
Pattern recognition.
(1)
Plasmons (Physics).
(1)
Signal, Image and Speech Processing.
(1)
Daha fazla
Tümünü genişlet
Daha az
Hepsini Daralt
Materyal Türü
Dahil
Hariç
Electronic Book
(2)
Lokasyon
Dahil
Hariç
Springer E-Book Collection
(2)
Kütüphane
Dahil
Hariç
TEDU library
(2)
true
{sortLabel}
{alphabetical}
{relevance}
{include}
{exclude}
{facetName}
{results}
{displayName}
{count}
{error}