5 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
Tümünü Seç
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
00000DEFAULTTR
Yazdır
1. 
Software Failure Investigation A Near-Miss Analysis Approach için kapak resmi
Software Failure Investigation A Near-Miss Analysis Approach
Software Failure Investigation A Near-Miss Analysis Approach
Yazar 
Eloff, Jan. author.
https://doi.org/10.1007/978-3-319-61334-5
Format: 
Electronic Resources
Alıntı: 
Information Systems and Communication Service. http://scigraph.springernature.com/things/product
2. 
Agile Risk Management için kapak resmi
Agile Risk Management
Agile Risk Management
Yazar 
Moran, Alan. author.
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-05008-9
Format: 
Electronic Resources
Alıntı: 
Management of Computing and Information Systems.
3. 
OSS Reliability Measurement and Assessment için kapak resmi
OSS Reliability Measurement and Assessment
OSS Reliability Measurement and Assessment
Yazar 
Yamada, Shigeru. author.
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-31818-9
Format: 
Electronic Resources
Alıntı: 
Management information systems.
5. 
Handbook of Model Checking için kapak resmi
Handbook of Model Checking
Handbook of Model Checking
Yazar 
Clarke, Edmund M. editor.
https://doi.org/10.1007/978-3-319-10575-8
Format: 
Electronic Resources
Alıntı: 
Software Engineering/Programming and Operating Systems. http://scigraph.springernature.com/things
Tümünü Seç
5 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Format
Dil
Basım Yılı
Konu
Materyal Türü
Lokasyon
Kütüphane

TED Üniversitesi

Ziya Gökalp Caddesi No.48 06420, Kolej Çankaya Ankara Tel: +90 312 585 0083

Powered by Informascope