5 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
Tümünü Seç
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
00000DEFAULTTR
Yazdır
1. 
Statistical methods for quality improvement için kapak resmi
Statistical methods for quality improvement
Statistical methods for quality improvement
Yazar 
Ryan, Thomas P.
Format: 
Kitap
Alıntı: 
Wiley series in probability and statistics.
2. 
Fundamentals of semiconductor manufacturing and process control için kapak resmi
Fundamentals of semiconductor manufacturing and process control
Fundamentals of semiconductor manufacturing and process control
Yazar 
May, Gary S., author.
Abstract with links to resource http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5201952
Format: 
Electronic Resources
Alıntı: 
John Wiley & Sons, publisher.
4. 
Introduction to statistical quality control için kapak resmi
Introduction to statistical quality control
Introduction to statistical quality control
Yazar 
Montgomery, Douglas C.
Format: 
Kitap
Alıntı: 
Wiley,
5. 
Statistical quality control : a modern introduction için kapak resmi
Statistical quality control : a modern introduction
Statistical quality control : a modern introduction
Yazar 
Montgomery, Douglas C.
Format: 
Kitap
Alıntı: 
Wiley ,
Tümünü Seç
5 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Format
Dil
Basım Yılı
Konu
Materyal Türü
Lokasyon
Kütüphane

TED Üniversitesi

Ziya Gökalp Caddesi No.48 06420, Kolej Çankaya Ankara Tel: +90 312 585 0083

Powered by Informascope