8 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
Tümünü Seç
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
00000000DEFAULTTR
Yazdır
2. 
Bias Temperature Instability for Devices and Circuits için kapak resmi
Bias Temperature Instability for Devices and Circuits
Bias Temperature Instability for Devices and Circuits
Yazar 
Grasser, Tibor. editor.
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-7909-3
Format: 
Electronic Resources
Alıntı: 
Circuits and Systems.
3. 
CMOS Test and Evaluation A Physical Perspective için kapak resmi
CMOS Test and Evaluation A Physical Perspective
CMOS Test and Evaluation A Physical Perspective
Yazar 
Bhushan, Manjul. author.
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4939-1349-7
Format: 
Electronic Resources
Alıntı: 
Circuits and Systems.
4. 
Circuit Design for Reliability için kapak resmi
Circuit Design for Reliability
Circuit Design for Reliability
Yazar 
Reis, Ricardo. editor.
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-4078-9
Format: 
Electronic Resources
Alıntı: 
Circuits and Systems.
7. 
Software Design for Resilient Computer Systems için kapak resmi
Software Design for Resilient Computer Systems
Software Design for Resilient Computer Systems
Yazar 
Schagaev, Igor. author.
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-29465-0
Format: 
Electronic Resources
Alıntı: 
Circuits and Systems.
8. 
Security in Wireless Sensor Networks için kapak resmi
Security in Wireless Sensor Networks
Security in Wireless Sensor Networks
Yazar 
Oreku, George S. author.
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-21269-2
Format: 
Electronic Resources
Alıntı: 
Information and Communication, Circuits.
Tümünü Seç
8 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Format
Dil
Basım Yılı
Konu
Materyal Türü
Lokasyon
Kütüphane

TED Üniversitesi

Ziya Gökalp Caddesi No.48 06420, Kolej Çankaya Ankara Tel: +90 312 585 0083

Powered by Informascope