3 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
Tümünü Seç
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
000DEFAULTTR
Yazdır
1. 
Timing Performance of Nanometer Digital Circuits Under Process Variations için kapak resmi
Timing Performance of Nanometer Digital Circuits Under Process Variations
Timing Performance of Nanometer Digital Circuits Under Process Variations
Yazar 
Champac, Victor. author.
https://doi.org/10.1007/978-3-319-75465-9
Format: 
Electronic Resources
Alıntı: 
focus on design-time solutions. The authors describe a step-by-step methodology, going from logic gates
2. 
Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques için kapak resmi
Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques
Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques
Yazar 
Sayil, Selahattin. author.
https://doi.org/10.1007/978-3-319-69673-7
Format: 
Electronic Resources
Alıntı: 
highlights the inherent difficulties encountered with the mechanical probe and testability design approaches
3. 
Digital Systems From Logic Gates to Processors için kapak resmi
Digital Systems From Logic Gates to Processors
Digital Systems From Logic Gates to Processors
Yazar 
Deschamps, Jean-Pierre. author.
https://doi.org/10.1007/978-3-319-41198-9
Format: 
Electronic Resources
Alıntı: 
Digital Systems From Logic Gates to Processors / Deschamps, Jean-Pierre. author.
Tümünü Seç
3 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Format
Dil
Basım Yılı
Konu
Materyal Türü
Lokasyon
Kütüphane

TED Üniversitesi

Ziya Gökalp Caddesi No.48 06420, Kolej Çankaya Ankara Tel: +90 312 585 0083

Powered by Informascope