2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
Tümünü Seç
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
00DEFAULTTR
Yazdır
1. 
Integrated circuit manufacturability : the art of process and design integration için kapak resmi
Integrated circuit manufacturability : the art of process and design integration
Integrated circuit manufacturability : the art of process and design integration
Yazar 
Pradhan, Dhiraj K.
Abstract with links to resource http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5265097
Format: 
Electronic Resources
Alıntı: 
). Statistical Methods of Parametric Yield and Quality Enhancement (Maciej Styblinski). Architectural Fault
2. 
Computer-aided design of analog integrated circuits and systems için kapak resmi
Computer-aided design of analog integrated circuits and systems
Computer-aided design of analog integrated circuits and systems
Yazar 
Gielen, Georges.
Abstract with links to resource http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5265766
Format: 
Electronic Resources
Alıntı: 
Statistical Optimization-Based Approach for Automated Sizing of Analog Cells -- Synthesis of High-Performance
Tümünü Seç
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Format
Dil
Basım Yılı
Konu
Materyal Türü
Lokasyon
IEEE
(2)
Kütüphane

TED Üniversitesi

Ziya Gökalp Caddesi No.48 06420, Kolej Çankaya Ankara Tel: +90 312 585 0083

Powered by Informascope