2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
Tümünü Seç
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
00DEFAULTTR
Yazdır
2. 
Software metrics and software metrology için kapak resmi
Software metrics and software metrology
Software metrics and software metrology
Yazar 
Abran, Alain, 1949-
Abstract with links to resource http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=6381791
Format: 
Electronic Resources
Tümünü Seç
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Format
Dil
Basım Yılı
Konu
Materyal Türü
Kütüphane

TED Üniversitesi

Ziya Gökalp Caddesi No.48 06420, Kolej Çankaya Ankara Tel: +90 312 585 0083

Powered by Informascope