Yazar
Eloff, Jan. author.
Format:
Electronic Resources
Alıntı:
Software Failure Investigation A Near-Miss Analysis Approach / Eloff, Jan. author.
View Other Search Results
Yazar
Venter, Hein. editor. (orcid)0000-0002-3607-8630
Format:
Electronic Resources
Alıntı:
Eloff, Jan. editor. (orcid)0000-0003-4683-2198
View Other Search Results
Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Daraltılmış: