2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
Tümünü Seç
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
00DEFAULTTR
Yazdır
1. 
Telecommunications system reliability engineering, theory, and practice için kapak resmi
Telecommunications system reliability engineering, theory, and practice
Telecommunications system reliability engineering, theory, and practice
Yazar 
Ayers, Mark L., author.
Abstract with links to resource http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=6331044
Format: 
Electronic Resources
Alıntı: 
Telecommunications system reliability engineering, theory, and practice / Ayers, Mark L., author.
2. 
Quantum mechanics for electrical engineers için kapak resmi
Quantum mechanics for electrical engineers
Quantum mechanics for electrical engineers
Yazar 
Sullivan, Dennis Michael, 1949-
Abstract with links to resource http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=6168881
Format: 
Electronic Resources
Alıntı: 
IEEE press series on microelectronic systems ;
Tümünü Seç
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Format
Dil
Konu
Materyal Türü
Lokasyon
IEEE
(2)
Kütüphane

TED Üniversitesi

Ziya Gökalp Caddesi No.48 06420, Kolej Çankaya Ankara Tel: +90 312 585 0083

Powered by Informascope