3 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
Tümünü Seç
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
000DEFAULTTR
Yazdır
1. 
The dark side of software engineering : evil on computing projects için kapak resmi
The dark side of software engineering : evil on computing projects
The dark side of software engineering : evil on computing projects
Yazar 
Rost, Johann, author.
Abstract with links to resource http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=6381796
Format: 
Electronic Resources
Alıntı: 
The dark side of software engineering : evil on computing projects / Rost, Johann, author.
2. 
Semantic computing için kapak resmi
Semantic computing
Semantic computing
Yazar 
Sheu, Phillip C.-Y.
Abstract with links to resource http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5558999
Format: 
Electronic Resources
Alıntı: 
Engineering / Shu Wang, Fei Xie, Phillip C-y Sheu -- From Semantic Objects to Structured Natural Language
3. 
Software metrics and software metrology için kapak resmi
Software metrics and software metrology
Software metrics and software metrology
Yazar 
Abran, Alain, 1949-
Abstract with links to resource http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=6381791
Format: 
Electronic Resources
Alıntı: 
Software metrics and software metrology / Abran, Alain, 1949-
Tümünü Seç
3 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Format
Dil
Konu
Materyal Türü
Lokasyon
IEEE
(3)
Kütüphane

TED Üniversitesi

Ziya Gökalp Caddesi No.48 06420, Kolej Çankaya Ankara Tel: +90 312 585 0083

Powered by Informascope