2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
Tümünü Seç
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
00DEFAULTTR
Yazdır
1. 
Optical bit error rate : an estimation methodology için kapak resmi
Optical bit error rate : an estimation methodology
Optical bit error rate : an estimation methodology
Yazar 
Kartalopoulos, Stamatios V. author.
Abstract with links to resource http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5263060
Format: 
Electronic Resources
Alıntı: 
Data transmission systems -- Quality control.
2. 
Fundamentals of semiconductor manufacturing and process control için kapak resmi
Fundamentals of semiconductor manufacturing and process control
Fundamentals of semiconductor manufacturing and process control
Yazar 
May, Gary S., author.
Abstract with links to resource http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5201952
Format: 
Electronic Resources
Alıntı: 
Fundamentals of semiconductor manufacturing and process control / May, Gary S., author.
Tümünü Seç
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Format
Dil
Basım Yılı
Konu
Materyal Türü
Lokasyon
IEEE
(2)
Kütüphane

TED Üniversitesi

Ziya Gökalp Caddesi No.48 06420, Kolej Çankaya Ankara Tel: +90 312 585 0083

Powered by Informascope