4 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
Tümünü Seç
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
0000DEFAULTTR
Yazdır
2. 
Connections : patterns of discovery için kapak resmi
Connections : patterns of discovery
Connections : patterns of discovery
Yazar 
Alesso, H. P., author.
Abstract with links to resource http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5361009
Format: 
Electronic Resources
Alıntı: 
Transistor -- The Microprocessor -- How Microprocessors Work -- Moore's law -- Patterns of Discovery
3. 
Dependability benchmarking for computer systems için kapak resmi
Dependability benchmarking for computer systems
Dependability benchmarking for computer systems
Yazar 
Kanoun, Karama.
Abstract with links to resource http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=6129686
Format: 
Electronic Resources
Alıntı: 
16 Neutron Soft Error Rate Characterization of Microprocessors 341Cristian Constantinescu -- Index
4. 
SOI lubistors : lateral, unidirectional, bipolar-type insulated-gate transistors için kapak resmi
SOI lubistors : lateral, unidirectional, bipolar-type insulated-gate transistors
SOI lubistors : lateral, unidirectional, bipolar-type insulated-gate transistors
Yazar 
Omura, Y. (Yasuhisa), auteur.
Abstract with links to resource http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=6628862
Format: 
Electronic Resources
Alıntı: 
discharge protection device in SOI (silicon-on-insulator) circuits used in IBM and AMD microprocessors. SOI
Tümünü Seç
4 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Format
Dil
Basım Yılı
Konu
Materyal Türü
Lokasyon
Kütüphane

TED Üniversitesi

Ziya Gökalp Caddesi No.48 06420, Kolej Çankaya Ankara Tel: +90 312 585 0083

Powered by Informascope