2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
Tümünü Seç
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
00DEFAULTTR
Yazdır
1. 
Bias Temperature Instability for Devices and Circuits için kapak resmi
Bias Temperature Instability for Devices and Circuits
Bias Temperature Instability for Devices and Circuits
Yazar 
Grasser, Tibor. editor.
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-7909-3
Format: 
Electronic Resources
Alıntı: 
Quality Control, Reliability, Safety and Risk.
2. 
Hot Carrier Degradation in Semiconductor Devices için kapak resmi
Hot Carrier Degradation in Semiconductor Devices
Hot Carrier Degradation in Semiconductor Devices
Yazar 
Grasser, Tibor. editor.
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-08994-2
Format: 
Electronic Resources
Alıntı: 
degradation, one of today’s most complicated reliability issues in semiconductor devices.  Coverage includes
Tümünü Seç
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Format
Dil
Basım Yılı
Konu
Materyal Türü
Lokasyon
Kütüphane

TED Üniversitesi

Ziya Gökalp Caddesi No.48 06420, Kolej Çankaya Ankara Tel: +90 312 585 0083

Powered by Informascope