2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
Tümünü Seç
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
00DEFAULTTR
Yazdır
1. 
Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications için kapak resmi
Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications
Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications
Yazar 
Franco, Jacopo. author.
http://dx.doi.org/10.1007/978-94-007-7663-0
Format: 
Electronic Resources
Alıntı: 
Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications Franco, Jacopo
2. 
Poly-SiGe for MEMS-above-CMOS Sensors için kapak resmi
Poly-SiGe for MEMS-above-CMOS Sensors
Poly-SiGe for MEMS-above-CMOS Sensors
Yazar 
Gonzalez Ruiz, Pilar. author.
http://dx.doi.org/10.1007/978-94-007-6799-7
Format: 
Electronic Resources
Alıntı: 
and improved reliability. Poly-SiGe for MEMS-above-CMOS sensors demonstrates the compatibility of
Tümünü Seç
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Format
Dil
Basım Yılı
2014
(2)
Konu
Materyal Türü
Lokasyon
Kütüphane
Git:Arama SonuçlarıSayfa BaşıArama Filtreleri

TED Üniversitesi

Ziya Gökalp Caddesi No.48 06420, Kolej Çankaya Ankara Tel: +90 312 585 0083

Powered by Informascope