3 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
Tümünü Seç
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
000DEFAULTTR
Yazdır
2. 
Semiconductor memories : technology, testing, and reliability için kapak resmi
Semiconductor memories : technology, testing, and reliability
Semiconductor memories : technology, testing, and reliability
Yazar 
Sharma, Ashok K., author.
Abstract with links to resource http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5264189
Format: 
Electronic Resources
Alıntı: 
.2 Ferroelectric Random Access Memories (FRAMs) -- 8.3 Gallium Arsenide (GaAs) FRAMs -- 8.4 Analog
3. 
High temperature electronics için kapak resmi
High temperature electronics
High temperature electronics
Yazar 
Kirschman, Randall K.
Abstract with links to resource http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5263462
Format: 
Electronic Resources
Alıntı: 
Potential Applications (P. Dreike, et al.) -- Silicon and Gallium Arsenide in High-Temperature Electronics
Tümünü Seç
3 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Format
Dil
Basım Yılı
Konu
Electronic books.
(2)
2D integrated circuits
(1)
3D integrated circuits
(1)
CMOS logic circuits.
(1)
CNTs
(1)
Materyal Türü
Lokasyon
Kütüphane

TED Üniversitesi

Ziya Gökalp Caddesi No.48 06420, Kolej Çankaya Ankara Tel: +90 312 585 0083

Powered by Informascope