Search Results for Eloff, Jan.

2 sonuç bulundu

Arama sonuçlarına abone ol

Tümünü Seç

1

Liste görünümüne geç

Küçük resim görünümüne geç

00DEFAULTTR

Yazdır

1.

Software Failure Investigation A Near-Miss Analysis Approach için kapak resmi

Software Failure Investigation A Near-Miss Analysis Approach

Software Failure Investigation A Near-Miss Analysis Approach

Yazar

Eloff, Jan. author.

https://doi.org/10.1007/978-3-319-61334-5

Format:

Electronic Resources

Alıntı:

Software Failure Investigation A Near-Miss Analysis Approach / Eloff, Jan. author.

2.

Information Security 17th International Conference, ISSA 2018, Pretoria, South Africa, August 15–16, 2018, Revised Selected Papers için kapak resmi

Information Security 17th International Conference, ISSA 2018, Pretoria, South Africa, August 15–16, 2018, Revised Selected Papers

Information Security 17th International Conference, ISSA 2018, Pretoria, South Africa, August 15–16, 2018, Revised Selected Papers

Yazar

Venter, Hein. editor. (orcid)0000-0002-3607-8630

https://doi.org/10.1007/978-3-030-11407-7

Format:

Electronic Resources

Alıntı:

Eloff, Jan. editor. (orcid)0000-0003-4683-2198

Tümünü Seç

1

2 sonuç bulundu

Arama sonuçlarına abone ol

Arama Sonuçlarını Sınırlandır

TED Üniversitesi

Ziya Gökalp Caddesi No.48 06420, Kolej Çankaya Ankara Tel: +90 312 585 0083

Powered by Informascope

Copyright 2023 Sirsi Corporation - Enterprise Version 5.2.1.2